IEC 61395 架空導体- クリープ試験手順

IEC 61395-1998 架空導体- 撚線導体のクリープ試験手順

架空導体- クリープ試験機

架空導体- 撚り線用クリープ試験機

1) IEC 61395 架空導体- Creep Test Procedures は、標準化を目的とした世界的な組織です。すべての国内電気標準委員会 (IEC国内委員会). IEC の目的は、電気・電子分野の標準化に関するあらゆる問題についての国際協力. にこの目的と他の活動に加えて, IEC は国際規格を発行します. 彼らの準備は、技術委員会に委託; 扱われる主題に関心のある IEC 国内委員会は、この準備作業に参加する. 国際的, 政府と非政府組織の連携 IEC もこの準備に参加します. IEC は国際機関と緊密に連携しています。標準化のために (ISO) 両者の合意により定められた条件による組織.

2) 技術的事項に関する IEC の正式な決定または合意には、次のことが明示されています。, できるだけ近いところに, の各技術委員会に代表者が存在するため、関連主題に関する国際的な意見の一致が見られる関心のあるすべての国内委員会から.

国際規格IEC 61395 IEC技術委員会によって作成されました 7: オーバーヘッド 導電体.

この規格の本文は以下の文書に基づいています。:

FDI	投票結果のご報告
7/515/FDI	7/516/RVD

この規格の承認に関する投票に関する詳細な情報は、次のレポートに記載されています。上の表に示されている投票. 付録 A は情報提供のみを目的としています.

架空導体 – より線導体のクリープ試験手順

1 範囲
この国際規格は主に、座礁の無中断クリープ試験に適用されます。によって指定されているような架空線用の導体 IEC 61089. の手順結果の解釈も含まれます. テストの目的は主に、何らかの目的でクリープを計算し、クリープを比較することです。異なる導体. この規格の要件は、次の精度を目指しています。 1 %. しかし, それは認識されるべきです製造工程で生じるばらつきによるものです, 試験で得られたクリープはテストされたタイプのすべての導体の正確な値ではありません.

2. 規範的参照
次の規範文書には、以下の規定が含まれています。, このテキストの参照を通じて, この国際規格の規定を構成する. 出版当時, 版 有効であることが示されました. すべての規範文書は改訂される可能性があります, および協定の当事者 この国際規格に基づいて作成されたものは、適用の可能性を調査することが推奨されます。 以下に示す規範文書の最新版. IECおよびISOのメンバー 現在有効な国際規格の登録簿を維持する. IEC 61089:1991, 丸線同心撚り架空電気撚線導体

3. 定義
この国際規格の目的のため, 次の定義が適用されます.

3.1 サンプルの長さ
エンドフィッティング間の導体の全長

3.2 ゲージ長
クリープが測定される導体の距離

3.3 試験温度
標点の長さに沿った事前に指定された 3 つの位置で測定された平均温度、または, いつ 3 つ以上の測定位置が使用されている, 等距離で測定した平均温度ゲージの長さに沿って.

3.4 テストロード:
試験中に導体に作用する一定の荷重
注 – これにより、クリープとして知られる永久的な時間依存の伸びが発生します。.

3.5 L搭乗時間:
予圧をかけてから試験荷重まで、または無負荷から試験までに要する時間負荷

3.6 Dテストの実施:
テスト負荷に達してからテストが終了するまでの時間間隔

3.7 c棒試験機:
試験中に導体サンプルに張力を加えるための完全な装置

3.8 E2番目のフィッティング:
導体の電気的および/または機械的連続性を維持するハードウェア

4. 単位, 計測と校正:
国際単位系の単位 (SI単位) 使用されます. 追跡可能なテスト精度を確保するため, テストで使用されたすべての機器の校正記録保管されます. 機器は国家的に認められた基準に従って校正されなければなりません標準. そのような基準が存在しない場合, 校正に使用される基準は文書化されなければならない.

5. サンプルの選択と準備

IEC 61395 架空導体- クリープ試験手順
5.1 サンプルの選択
サンプルは少なくとも採取されなければならない 20 ドラム上の導体の端から m. そうなるだろう 取り外しおよび準備中に損傷を受けていないこと. 少なくとも 3 つの強力なホースクリップを取り付ける必要があります。
サンプルの両端で層間移動を防止, ドラムから切り取られる前に.

エンドフィッティング間の最小サンプル長さは次のとおりです。:
100 ×d + 2 ×
どこ:
100 × d は最小ゲージ長さです;
dは導体の直径です;
a はエンドフィッティングとゲージ長の間の距離です。. 1)

距離, ある, 少なくとも 25 % ゲージ長さまたは 2 m どちらか小さい方. The 導体から切断された全長には、グリップを提供するために必要な長さが含まれます。サンプルの両端. 形 1 典型的なセットアップを示します.

サンプルと標点距離は、適切な重みを考慮して選択されています。引張試験に比べてクリープ試験の方が精度が高い.

サンプルがドラムから採取されたら, できるだけ真っ直ぐに保たれなければなりません. これならそれは現実的ではないので、次の手順を採用する必要があります.

ある) サンプルの長さの 2 倍をドラムから取り除きます。, そして中央部分が使用されますサンプルの長さとして.

b) 輸送時の反動時, コイルの直径 1,5 最小 m を使用するものとします.

IEC 61395 架空導体- クリープ試験機

5.2 サンプルの準備

エンドフィッティング, 低融点金属や樹脂ボンディングなど, 試験サンプルに添付されている滑りや層間移動を許容してはならない.

これらのエンドフィッティングは、導体の素線が同心である場合に取り付ける必要があります. どこ導体にはグリスが塗布されています, グリップで保持される導体の部分は、エンドフィッティングを取り付ける前に脱脂します.

6 温度と温度変化:

導体温度はゲージの中央と両端で測定されます。長さ, テスト中に. 測定装置は導体と十分に接触していなければなりませんサンプルを採取し、導体の外側の空気の動きの影響から絶縁される. そうでない場合それ以外の場合は指定, 試験の温度は次のとおりとする。 20 ℃.

6.1 温度変化:
ゲージ長に沿った導体の温度変化は以下でなければなりません。 2,0 ℃. 導体 試験中の温度変動は±2.0 °C 未満でなければなりません. それを確実にすることが重要です 上記より大きな逸脱は起こらない. 継続的に行う手段 空気または導体の温度を監視することをお勧めします.

6.2 温度測定装置の精度
温度測定に使用される機器の精度は±0.5 °C 以内でなければなりません。. 標点距離に使用される温度測定装置の精度は、明確でなければなりません。 試験報告書に記載されている. 温度管理および測定に使用される方法もまた、 完全に文書化される.

6.3 温度補償: 温度変化は補償されなければならない, 熱基準を使用して、サンプルと同じ熱膨張係数, 図では参照バーと呼ばれます 1, またはによって熱電対リファレンスを使用する. 後者の場合, ひずみの変化が計算され、伸び測定値から差し引かれる. 3つの温度測定装置は、使用済み, その精度は以下の範囲内でなければなりません 0,5 ℃. 明確に理解されるものとする。温度補償は、長さによって生じる測定値のばらつきを軽減することです。熱伸びのみによる導体サンプルの変化. 温度の影響クリープ速度の変化は補償できません.

7 負荷 7.1 テスト負荷試験荷重の精度は±1以内であること。 % または±120Nのいずれか大きい方. 負荷セルはテスト中に使用されるものとする.

7.2 ひずみ測定
ひずみ測定装置の精度と設定は、ひずみを測定するのに十分なものでなければなりません。 導体サンプルのひずみを最も近い値に 5 ×10–6. 測定装置は任意の適切なものでよい
マイクロメーターダイヤルゲージなどの種類, 低電圧変位トランスデューサまたは光学システム. テスト中に回転が制御されない, 特に長いサンプルの場合は発生する可能性があり、 回避または補償される.

8 試験手順
項に記載の手順に従って調製されたサンプル 5 に置かれますクリープ試験機. 一部の機械ではひずみを加えるために予圧が必要な場合があります
測定器. このような場合、プリロードは最大 2 % の定格引張強さの車掌は許されるかもしれない. 予圧がかかる状態が長時間続くことは避けてください。
クリープ曲線の形状に影響を与える. 通常は以下です 5 プリロード時の最小値は受け入れられました.

ロード時間は次のようになります。 5 分± 10 s. 荷重は試験まで均等に加える必要があります負荷, 過負荷なしで. 段階的にロードする必要がある場合, 増分ステップは行わないでください。より大きい 20 % テスト負荷の 2). ステップローディングを利用する場合, 注意する必要があります荷重グラフの下の領域を確保する (ストレス対時間の図で) と等しい
予圧またはゼロ荷重から試験荷重までの直線. 負荷はその間一定に保たれなければなりませんテスト期間. 3)

9 データ収集

クリープ温度と導体温度の測定は、全負荷がかかった瞬間から行われます。適用される, つまり. の終わりに 5 ロード時間に許容される最小時間. その後, 導体クリープ伸びを計算するための温度と測定値は、対数時間スケール 4). これらの測定値の数は、各間隔で少なくとも 3 つでなければなりません, 時間が10倍になると. 最初の読み取り値はゼロ時間とクリープに対応します. The 二度目の読書, これはクリープの最初の値です, 遅くとも次の日までに取得されるものとします 0,02 時間後最初の読書. 温度補償に熱電対基準を使用する場合, 伸びと温度の読み取りは同時に行われます。. 期間テストは少なくとも 1 000 h, これは長時間のクリープを十分に予測するでしょう正確に.

入手可能なクリープデータのほとんどは、 1 000 hクリープ試験. 時間が長いほど大きな効果が得られます正確さ, しかし対数表示のため, 増加するには非常に長い時間が必要です大きく影響する. 初期クリープ未測定によるものと認められる。テスト, 曲率により、テストが長く続くほど時間クリープが小さくなります.

10 データの解釈
導体がべき乗則に従って伸びるときのクリープ, それぞれのクリープを測定 対数スケール上の等しい時間間隔は通常、ほぼ等しくなります。, つまり. クリープ 間 1 手 10 h は、間の値と同じ大きさです。 100 手 1 000 h. The 値に適合する回帰直線は、距離の二乗和を最小化します。 直線. したがって、値が集中すると、線が中心近くを通過するようになります。 濃度の 5). クリープ公式に対する不偏線形回帰を可能にするため, このメソッドでは、近似された線に沿って値が等間隔に配置されている必要があります。.

両対数スケールでプロットされた伸びと時間のグラフ, 測定されたクリープ値は、長時間にわたって直線に近づく曲線を形成する. ラインを取り付けると、価値観, a は t = のクリープ軸との切片です。 1 h と b は直線の傾きです.

線形回帰は、以下の値を使用して行われます。 1 手 1 000 h クリープ方程式を計算する. 未満のクリープ値 1 h は情報提供のみを目的としています.

定数 a および b と、計算された長時間クリープ 10 比較の目的で年数を報告書に記載するものとする, 公称合意温度と実際の温度変化を合わせて. 対数対数図は、伸びと時間の関係で作成されます。 100 000 h は、公称温度、平均温度、実際の温度変化とともにプロットされた近似直線です。. クリープ曲線のプロットや追加情報などの詳細情報については、供給者と購入者が合意するものとします。.

付録A (有益な) 練習する

IEC 61395 架空導体- クリープ試験手順

A.1 推奨されるテストパラメータ
次のテストパラメータが推奨されます:
– テストの温度は次のとおりです。 20 ℃;
– テスト負荷は次のようにする必要があります。 20 % 導体の定格引張強さ.
導体のクリープ挙動の完全な特性評価が必要な場合, テストはそうあるべきです少なくとも 2 つの異なる荷重と 2 つの異なる温度で実行される.

A.2 テスト手順
長い導体サンプルを使用する場合, プリロードは導体を持ち上げるのに十分ではありません. このような場合、導体サンプルは一定の間隔で支持される必要があります。, どちらかによってバランスのとれた重りとレバーアームシステム、またはサンプルの下のトロリーによる.

A.3 サンプルの選択と準備
サンプルの準備は、すべてのストランドが均一であるクリープ試験用のサンプルを準備することを目的としています。 テスト中はできるだけ均等にストレスを受ける. これにより、同じ引張条件が得られます。 使用されている送電線の非常に長いスパンで自然に発生するものとして得られる. 不要 したがって、導体の反動や曲がりは避けてください。.

成形エンドフィッティング (例えば. 樹脂または低融点金属) リスクを軽減するために両方を推奨します滑りを防止し、層を乱して層に応力がかかるのを避けるためです。 不平等に.

            

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