תאי טמפרטורה נמוכים משפיעים
- תיאור
- חֲקִירָה
תיאור
תאי טמפרטורה נמוכים משפיעים
תא טמפרטורות נמוכות מסדרת CDW לבדיקת השפעת Charpy
(-30℃, -60℃, -80℃, -100℃, -196℃)
1. יישום & מאפיינים:
תא טמפרטורה נמוכה משמש לקירור הטמפרטורה של דגימת בדיקת השפעת charpy. המכונה מאמצת טכניקת קירור מדחס חפיפה. הוא משתמש בשיטת ערבוב מחזורית בהתאם לעקרון איזון החום כדי לקרר את המדגם באופן אוטומטי ושווה ולשמור על הטמפרטורה. הוא משתמש במכשיר בעל דיוק גבוה בהתאמה עצמית ובחיישן פלטינירידיום. יש לו דיוק גבוה, רזולוציה גבוהה, תפעול קל ויעילות עבודה גבוהה.
2. מפרט טכני עיקרי:
דֶגֶם | CDW-30 | CDW-40 | CDW-60 | CDW-80 | CDW-100 | CDW-196 |
טווח טמפרטורת קירור | －30℃–30℃ | －40℃～30℃ | －60℃～30℃ | －80℃～30℃ | －100℃～30℃ | －196℃～30℃ |
דיוק בקרת טמפרטורה | ≤±0.5℃ | |||||
דיוק של רזולוציית המכשיר | 0.01℃
| |||||
קירור בינוני | אתנול או פתרון אחר שאינו מקפיא | |||||
3. דגימת בדיקת אימפקט של Charpy בתא בטמפרטורה נמוכה
מלבד תא בטמפרטורה נמוכה, יש לנו גם מכונת בדיקת השפעה של Charpy (300י, 500י, 600י, 750י), מכונת חיתוך חריץ (חריץ V, חריץ U).
תאי טמפרטורה נמוכים משפיעים
למידע מפורט יותר, אנא צרו קשר עמנו:
אימייל: andy@victorytest.com
איש קשר: אנדי- יצרן מכונות בדיקה VTS
נייד & וואטסאפ: +86-1530530734
